SZT-I型平行四刀法薄膜方阻刀形测试台_SZT-I 平行四刀法电容器薄膜方块电阻测试仪专用测试架

SZT-I型平行四刀法薄膜方阻刀形测试台
苏州晶格电子有限公司自主研发生产SZT-I型平行四刀法测试台,薄膜方阻刀形测试台四探针测试仪,方阻测试仪

产品类别： SZT-I 平行四刀法电容器薄膜方块电阻测试仪专用测试架
上架时间： 2013/5/1 21:47:19
浏览次数： 47636

产品详细

一、功能与结构特征概述

薄膜方阻刀形测试台

SZT-I型平行四刀法方阻测试台

基本功能：SZT-I 型平行四刀法薄膜方阻刀形测试台，有四个平行刀型测试电极，配以四探针仪器，用以测试柔性半导体薄膜或金属涂层薄膜方阻。

基本组成：成套测试台有四个平行刀型测试电极、测试台架、仪器连接线缆等部件组成。

配套与兼容：本测试台兼容本公司所有四探针仪器，如下表主要型号，也可兼容其他大部分厂家四探针仪器。

ST2558A-F02 型薄膜方阻刀形测试台适用产品部分型号及名称列表

二、主要技术参数及说明

1柔性薄膜方阻测试专用

2可测尺寸宽5～100mm,电压刀距100mm，电流刀距130mm。

3磷铜探刀，接触良好可靠

4 探刀为可快捷拆换型，方便生产线频繁使用

5 本公司可为顾客长期代购探针配件，价格优惠，服务周到

三、使用方式，请参照各配套测试台使用方式。

四、联系方式：13656225155/0512-80973697 QQ:1064887318 丁先生

填写咨询内容:
订购产品： * 姓　名： * 电　话： * 邮　箱： * 备注信息：验证码：